X射线衍射定量分析可进行试验

  粘土矿物定量分析、钢中残余奥氏体含量的测定、无标样定量分析、二氧化钛颜料中锐钛型与金红石型比率、晶型结构分析、工业硅粉定量相分析 二氧化硅含量的测定 X射线衍射K值法等

  XRD可以用于定量分析哪些内容？

  A. 样品的平均晶粒尺寸

  B. 样品的相对结晶度

  C. 物相含量的定量分析

  D. 用于点阵常数的精密计算，残余应力计算等

原理

  X射线衍射分析（X-ray diffraction，简称XRD），是利用晶体形成的X射线衍射，对物质进行内部原

  子在空间分布状况的结构分析方法。

仪器技术参数

  小角衍射小角可以达到0.4度，主要测量介孔材料和其他高分子复合材料。广角衍射：角度可以

  达到5度，可以接收到小于10度的衍射峰。

  （1）测量精度：角度重现性±0.0001°；测角仪半径≥200mm，测角圆直径可连续变

  （2）小步长0.0001°；角度范围（2θ）：-110～168°；温度范围：室温～900℃；

  （3）输出：3KW；稳定性：±0.01%；管电压：20～60kV(1kV/1step)；管电流：10～60mA。

送样要求

  固体粉末：均匀干燥，粒度小于70um（过200目），质量不少于100 mg；

  块体、金属及薄膜样品：需加工出一平整的表面，尺寸约为20mm×10mm×2mm