扫描电镜试验 岩石SEM扫描电镜

  扫描电镜在对图像成像时，可以非常方便地利用软件对样品进行膜厚测量，并且会显示测得的膜厚。

  其测量的准确性主要是在于样品本身是否被有效制备。往往很多样品，没有通过合适的电镜制样手段进行制备，其截面本身结构是假象，那么在扫描电镜图像基础上测得的膜厚是不真实的。

  例如如下石墨烯多层膜，通过徕卡EM TIC 3X离子研磨仪，实现了有效的无应力“切割”，获得其真实截面结构，便于测量膜厚。

SEM（扫描电镜）是一种高分辨率电子显微技术，能够将样品表面的微观结构清晰呈现，提供丰富的形貌、构成、化学成分等信息。

高分辨率：SEM具有较高的分辨率，能够清晰显示岩石细微结构，帮助客户更准确地了解岩石的性质。

广泛适用性：无论是石油行业、建筑行业还是地质勘探等领域，岩石SEM扫描电镜都能应用于各类岩石样品的表面形貌分析。

高效快捷：SEM扫描电镜具备快速扫描和获取高质量图像的能力，减少了岩石检测的时间成本。

我们的岩石SEM扫描电镜可以提供以下岩石分析服务：

形貌表征：通过SEM扫描电镜，我们能够观察岩石的表面形貌，显示其微纳米级的结构特征，为客户揭示岩石的形态变化和表面特性。

元素分析：SEM扫描电镜结合能谱仪技术，能够检测并分析岩石中的元素成分，帮助客户了解岩石的化学特性。

矿物相分析：通过SEM扫描电镜观察并分析岩石中的矿物相组成，客户可以获得矿物相的定性和定量信息。